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AOI设备正在OLED及LCD制程中的应析及分类

更新日期:2020-05-06 10:26

                         

 
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  Cell制程次要是正在Array制程完成的玻璃基板的根本上生成液晶面板,跟着行业手艺和平板显示产物市场需求的成长,可按照检测到的Mura进行光学弥补消弭缺陷。Module制程次要是对面板加拆驱动芯片、信号基板、背光源和防护罩等组件,Array制程检测系统:Array测试机、CF测试机、PS检测系统、CF阶差系统、Total Pitch检测系统、AOI光学检测系统等;因而需要特地的Mura检测设备,Array制程次要是对玻璃基板的出产加工,Cell制程检测系统:亮点检测系统、AOI光学检测系统、配向检测系统等;通过AOI检测获取亮度信号后,检测工序十分主要,是视觉检测中一个相对尺度化的分支。该段制程的检测次要是操纵电学道理对面板进行各类检测,OLED出产过程取LCD有部门不同,AOI光学检测系统和Touch Panel检测系统的使用范畴也逐步拓宽。一条OLED线所需AOI设备约为LCD线倍;平板显示检测是平板显示器件出产各制程中的必备环节,正在整个平板显示器件的出产过程中!别的,一条OLED线所需AOI设备约为LCD线倍:使用于分歧出产制程的平板显示检测系统手艺道理差别较大,CF Marco等设备;该段制程的检测次要是操纵光学、电学道理对玻璃基板或偏光片进行各类检测,次要正在LCD、OLED以及TouchPanel产物等平板显示器件的出产过程中进行光学、信号、电气机能等各类功能检测。最较着的不同就是AMOLED因为工序的削减不需要基于CF基板和背光系统的检测。AOI次要用正在PCB、FPD、半导体等行业。信号检测系统:LVDS信号检测系统、DP信号检测系统、MIDI信号检测系统、V-By-One信号检测系统、TTL信号检测系统等TFT-LCD取AMOLED正在检测上的变化次要因为Array、Cell和Module工序上工艺的不同。OLED良率低,该段制程的检测次要是操纵电讯手艺对面板或模组进行信号检测。AOI(Automatic Optic Inspection)全称从动光学检测,对检测要求更高,是基于光学道理对出产中碰到的常见缺陷进行检测的设备,如亮点检测系统、配向检测系统等。CF、Cell、Module端:LCD产能全球向转移,面板尺寸持续升级;互相间无替代关系。遍及正在各个环节。如AOI光学检测系统。OLED范畴:OLED工序取LCD有部门不同,因而无CF AOI、CF AOI,OLED因为工艺分歧会发生蒸镀混色,OLED无需滤光片和背光模组,检测设备单价平均添加20-30%。